هذا الجزء من المواصفة القياسية IEC 60749 تضع وصفاً لطريقة الإختبار المستخدمة لتقدير مقاومة جهاز شبه موصل لإجهادات حرارية وميكانيكية ناتجة عن دوران تبديد الطاق لقالب شبه الموصل الداخلي والموصلات الداخلية. يحدث هذا في حالة تطبيق ونزع التحيزات التشغيلية ذات الجهد المنخفض للموصل الأمامي (يحمل تيارات) بصفة دورية، مما يسفر عن تغيرات سريعة في درجة الحرارة. يهدف من اختبار دوران الطاقة محاكا التطبيقات النظيرة في الأجهزة الإلكترونية الكهربائية ومتمم للعمر التشغيلي للحرارة العالية (انظر إلى المواصفة القياسية الدولية IEC 60749-23). قد سفر التعرض لهذا الإختبار عن نفس آليات الإخفاق عند التعرض لدوران درجة الحرارة جو/جو أو لتغير سريع في درجة الحرارة التي تستخدم طريقة مغاطسين سائلين. يسبب هذا الإختبار في حدوث تلف ويعتبر اختباراً مضراً. ملحوظة: لا تهدف هذه المواصفة القياسية إلى تقديم نماذج توقيع لقياس العمر الاقتراضي.